Behnam Ghavami epub Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques

ZIP 8.5 Mb
RAR 9.4 Mb
EXE 7.8 Mb
APK 8.2 Mb
IOS 10.7 Mb
Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques

Behnam Ghavami yazarının Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques kitabı da dahil olmak üzere birçok dosya aşağıdaki bölümleri de içerebilir:
- imza dosyası: çeşitli varlıklar için dijital imzalar içerir.
- şifreleme.xml: yayımlama kaynaklarının şifrelenmesiyle ilgili bilgileri içerir. (Yazı tipi gizleme kullanılıyorsa bu dosya gereklidir.)
- meta veriler: kapsayıcı hakkında meta verileri depolamak için kullanılır.
- haklar: Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques kitabının dijital haklarıyla ilgili bilgileri depolamak için kullanılır.

XHTML içerik belgeleri ayrıca zengin meta verilerle Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques kitap işaretlemesine açıklama ekleme olanakları içerir, bu da onları hem işleme hem de erişilebilirlik amaçları için anlamsal olarak daha anlamlı ve kullanışlı hale getirir.

E içerik belgeleri, bir yayının okunabilir içeriğini tanımlayan ve ilgili medya varlıklarına (görüntüler, ses ve video klipler gibi) bağlantı veren XHTML (HTML5 profili tarafından tanımlanır) veya SVG belgeleri vb.'dir.


Biçim seçin
pdf kindle doc
yazar
Boyutlar ve boyutlar
Tarafından yayınlandı

3 Ocak 2017 18,9 x 0,5 x 24,6 cm 21 Eylül 2020 WADE H MCCREE 18,9 x 0,2 x 24,6 cm 28 Ekim 2011 18,9 x 0,6 x 24,6 cm 1 Ocak 2017 ROBERT H BORK 30 Ekim 2011 Kolektif 15 x 0,5 x 22 cm 18,9 x 0,3 x 24,6 cm ERWIN N GRISWOLD 28 Şubat 2018 18,9 x 0,4 x 24,6 cm Mdpi AG Additional Contributors
okumak okumak kayıt olmadan
yazar Behnam Ghavami Mohsen Raji
isbn 13 978-3030516093
Yayımcı Springer; 1st ed. 2021 basım
Boyutlar ve boyutlar 15.6 x 0.97 x 23.39 cm
Tarafından yayınlandı Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques 21 Eylül 2020

This book is intended for readers who are interested in the design of robust and reliable electronic digital systems. The authors cover emerging trends in design of today’s reliable electronic systems which are applicable to safety-critical applications, such as automotive or healthcare electronic systems. The emphasis is on modeling approaches and algorithms for analysis and mitigation of soft errors in nano-scale CMOS digital circuits, using techniques that are the cornerstone of Computer Aided Design (CAD) of reliable VLSI circuits. The authors introduce software tools for analysis and mitigation of soft errors in electronic systems, which can be integrated easily with design flows. In addition to discussing soft error aware analysis techniques for combinational logic, the authors also describe new soft error mitigation strategies targeting commercial digital circuits. Coverage includes novel Soft Error Rate (SER) analysis techniques such as process variation aware SER estimation and GPU accelerated SER analysis techniques, in addition to SER reduction methods such as gate sizing and logic restructuring based SER techniques.

En son kitaplar

benzer kitaplar

Functional Processing of Delta-Sigma Bit-Stream


okumak kayıt olmadan
Guide to Deep Learning Basics: Logical, Historical and Philosophical Perspectives


okumak kayıt olmadan
The Hairy Bikie and Other Metacognitive Strategies: A how-to guide for those whose learning is compromised


okumak kayıt olmadan
Statistical Mechanics of Hamiltonian Systems with Bounded Kinetic Terms: An Insight into Negative Temperature (Springer Theses)


okumak kayıt olmadan
Determining Sample Size and Power in Research Studies: A Manual for Researchers


okumak kayıt olmadan
A Synergistic Framework for Hardware IP Privacy and Integrity Protection


okumak kayıt olmadan