Semiconductor Device Reliability (Nato Science Series E: (175), Band 175)
A. Christou B. A. Unger yazarının Semiconductor Device Reliability (Nato Science Series E: (175), Band 175) kitabı da dahil olmak üzere birçok dosya aşağıdaki bölümleri de içerebilir:
- imza dosyası: çeşitli varlıklar için dijital imzalar içerir.
- şifreleme.xml: yayımlama kaynaklarının şifrelenmesiyle ilgili bilgileri içerir. (Yazı tipi gizleme kullanılıyorsa bu dosya gereklidir.)
- meta veriler: kapsayıcı hakkında meta verileri depolamak için kullanılır.
- haklar: Semiconductor Device Reliability (Nato Science Series E: (175), Band 175) kitabının dijital haklarıyla ilgili bilgileri depolamak için kullanılır.
XHTML içerik belgeleri ayrıca zengin meta verilerle Semiconductor Device Reliability (Nato Science Series E: (175), Band 175) kitap işaretlemesine açıklama ekleme olanakları içerir, bu da onları hem işleme hem de erişilebilirlik amaçları için anlamsal olarak daha anlamlı ve kullanışlı hale getirir.
E içerik belgeleri, bir yayının okunabilir içeriğini tanımlayan ve ilgili medya varlıklarına (görüntüler, ses ve video klipler gibi) bağlantı veren XHTML (HTML5 profili tarafından tanımlanır) veya SVG belgeleri vb.'dir.
yazar | A. Christou B. A. Unger |
---|---|
Boyutlar ve boyutlar | 15,5 x 3,4 x 23,5 cm |
Tarafından yayınlandı | 1 Ocak 1989 |
15 x 0,5 x 22 cm 18,9 x 0,5 x 24,6 cm ERWIN N GRISWOLD ROBERT H BORK 18,9 x 0,4 x 24,6 cm 28 Ekim 2011 3 Ocak 2017 Kolektif 18,9 x 0,6 x 24,6 cm WADE H MCCREE 30 Ekim 2011 29 Ekim 2011 18,9 x 0,3 x 24,6 cm Mdpi AG 18,9 x 0,2 x 24,6 cm 1 Ocak 2017 Additional Contributors 28 Şubat 2018
okumak okumak kayıt olmadan
yazar | A. Christou B. A. Unger |
---|---|
isbn 10 | 9401076200 |
isbn 13 | 978-9401076203 |
Yayımcı | Springer Netherlands; 1990. baskı |
Dilim | İngilizce |
Boyutlar ve boyutlar | 15,5 x 3,4 x 23,5 cm |
Tarafından yayınlandı Semiconductor Device Reliability (Nato Science Series E: (175), Band 175) | 1 Ocak 1989 |
This publication is a compilation of papers presented at the Semiconductor Device Reliabi lity Workshop sponsored by the NATO International Scientific Exchange Program. The Workshop was held in Crete, Greece from June 4 to June 9, 1989. The objective of the Workshop was to review and to further explore advances in the field of semiconductor reliability through invited paper presentations and discussions. The technical emphasis was on quality assurance and reliability of optoelectronic and high speed semiconductor devices. The primary support for the meeting was provided by the Scientific Affairs Division of NATO. We are indebted to NATO for their support and to Dr. Craig Sinclair, who admin isters this program. The chapters of this book follow the format and order of the sessions of the meeting. Thirty-six papers were presented and discussed during the five-day Workshop. In addi tion, two panel sessions were held, with audience participation, where the particularly controversial topics of bum-in and reliability modeling and prediction methods were dis cussed. A brief review of these sessions is presented in this book.
En son kitaplar
benzer kitaplar
CONCUR '92: Third International Conference on Concurrency Theory, Stony Brook, NY, USA, August 24-27, 1992. Proceedings (Lecture Notes in Computer Science)
okumak kayıt olmadan
Mathematical Problems of Statistical Hydromechanics (Mathematics and its Applications)
okumak kayıt olmadan
Der Schutz des Unternehmensgeheimnisses im deutschen und U.S.-amerikanischen Zivilprozeß und im Rechtshilfeverfahren (Veröffentlichungen zum Verfahrensrecht, Band 3)
okumak kayıt olmadan
CONCUR '92: Third International Conference on Concurrency Theory, Stony Brook, NY, USA, August 24-27, 1992. Proceedings (Lecture Notes in Computer Science)
okumak kayıt olmadan
Mathematical Problems of Statistical Hydromechanics (Mathematics and its Applications)
okumak kayıt olmadan
Der Schutz des Unternehmensgeheimnisses im deutschen und U.S.-amerikanischen Zivilprozeß und im Rechtshilfeverfahren (Veröffentlichungen zum Verfahrensrecht, Band 3)
okumak kayıt olmadan